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    常規(guī)x線攝影(常規(guī)x線攝影特點(diǎn))

       2023-05-03 13:06:10 admin190
    核心提示:1. 常規(guī)x線攝影特點(diǎn)數(shù)字化X射線攝影又稱(DR),是計(jì)算機(jī)數(shù)字圖像處理技術(shù)與X射線放射技術(shù)相結(jié)合而形成的一種先進(jìn)的X線攝影技術(shù)。它在原有的診斷X線機(jī)直接膠片成像的基礎(chǔ)上,通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換和D/A轉(zhuǎn)

    1. 常規(guī)x線攝影特點(diǎn)

    數(shù)字化X射線攝影又稱(DR),是計(jì)算機(jī)數(shù)字圖像處理技術(shù)與X射線放射技術(shù)相結(jié)合而形成的一種先進(jìn)的X線攝影技術(shù)。它在原有的診斷X線機(jī)直接膠片成像的基礎(chǔ)上,通過(guò)A/D轉(zhuǎn)換和D/A轉(zhuǎn)換,進(jìn)行實(shí)時(shí)圖像數(shù)字處理,進(jìn)而使圖像實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化。它的出現(xiàn)打破了傳統(tǒng)X線機(jī)的觀念,實(shí)現(xiàn)了人們夢(mèng)寐以求的模擬X線圖像向數(shù)字化X線圖像的轉(zhuǎn)變。其優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)如下:

    1、DR由于采用數(shù)字技術(shù),動(dòng)態(tài)范圍廣,且有很寬的曝光寬容度,因而允許照相中的技術(shù)誤差,即使在一些曝光條件難以掌握的部位,也能獲得很好的圖像

    2、它最突出的優(yōu)點(diǎn)是分辨率高,圖像清晰、細(xì)膩,醫(yī)生可根據(jù)需要進(jìn)行諸如數(shù)字減影等多種圖像后處理,以期獲得理想的診斷效果。

    3、該設(shè)備在曝光后,可實(shí)時(shí)顯示數(shù)字圖像,然后通過(guò)一系列影像后處理如邊緣增強(qiáng)、放大、黑白翻轉(zhuǎn)、圖像平滑等功能,可從中提取出豐富可靠的臨床診斷信息,尤其對(duì)早期病灶的發(fā)現(xiàn)可提供良好的診斷條件。

    4、數(shù)字化X線機(jī)形成的數(shù)字化圖像比傳統(tǒng)膠片成像所需的X射線劑量要少,因而它能用較低的X線劑量得到高清晰的圖像,同時(shí)也使病人減少了受X射線輻射的危害,臨床醫(yī)生和放射科醫(yī)生盡量以X射線攝片代替透視進(jìn)行診斷。

    5、由于它改變了已往傳統(tǒng)的膠片攝影方法,而可采用計(jì)算機(jī)無(wú)片化檔案管理方法取而代之。此外,由于數(shù)字化X線圖像的出現(xiàn),結(jié)束了X線圖像不能進(jìn)入醫(yī)院PACS系統(tǒng)的歷史,為醫(yī)院進(jìn)行遠(yuǎn)程專家會(huì)診和網(wǎng)上交流提供了極大的便利。

    2. 常規(guī)x線攝影技術(shù)

    淚滴連線,大轉(zhuǎn)子連線,髂前上棘最高點(diǎn)連線等

    3. 常規(guī)x線的圖像特點(diǎn)

    1、條形統(tǒng)計(jì)圖的特點(diǎn):從圖中能清楚地看出各種數(shù)量的多少,便于比較。2、折線統(tǒng)計(jì)圖的特點(diǎn):不但能看出各種數(shù)量的多少,而且還能夠清楚地表示出數(shù)量增減變化的情況。3、扇形統(tǒng)計(jì)圖的特點(diǎn):表示各部分和總數(shù)之間,以及部分與部分之間的關(guān)系。4、網(wǎng)狀統(tǒng)計(jì)圖的特點(diǎn)是:母代表的意義,在具體的答題過(guò)程中就可以脫離字母,較簡(jiǎn)便找出答案。5、莖葉統(tǒng)計(jì)圖:是從統(tǒng)計(jì)圖上沒(méi)有原始數(shù)據(jù)信息的損失,所有數(shù)據(jù)信息都可以從莖葉圖中得到;莖葉圖中的數(shù)據(jù)可以隨時(shí)記錄,隨時(shí)添加,方便記錄與表示。6、直方圖:由一系列高度不等的縱向條紋或線段表示數(shù)據(jù)分布的情況。 簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是條形統(tǒng)計(jì)圖能反映一組數(shù)據(jù)的大小或多少,折線統(tǒng)計(jì)圖能描述一組數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì),扇形統(tǒng)計(jì)圖能描述一組數(shù)據(jù)占總體的百分比。擴(kuò)展資料統(tǒng)計(jì)圖分類:1、單變量圖,主要是呈現(xiàn)某一變量的分布特征。通過(guò)圖形元素的位置高低、范圍大小等對(duì)某一數(shù)據(jù)分布情況進(jìn)行呈現(xiàn),常用于描述、考察變量的分布類型。若變量為定量數(shù)據(jù) 常用圖形:直方圖、莖葉圖、箱圖、P-P或Q-Q圖。定量數(shù)據(jù)的分布描述最常用的是直方圖,通過(guò)取值范圍和長(zhǎng)度來(lái)展現(xiàn)分布規(guī)律,研究比如身高數(shù)據(jù)的分布情況如何。除直方圖外,常用的還有莖葉圖、箱圖。若變量為定類數(shù)據(jù)常用圖形:柱狀圖、餅圖、環(huán)形圖;對(duì)定類數(shù)據(jù)的描述如主要展現(xiàn)各類數(shù)據(jù)的頻數(shù)時(shí),可使用柱狀圖;如需要展現(xiàn)各部分占比,最常用的是餅圖。2、雙變量圖,用于考察兩變量之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系,即主要呈現(xiàn)X和Y之間的關(guān)系情況。雙變量圖按照數(shù)據(jù)類型可分為四種情況:第一種情況,X定類,Y定量,呈現(xiàn)X(定類)對(duì)于Y(定量)的關(guān)聯(lián)關(guān)系,比如不同學(xué)歷人群對(duì)滿意度差異關(guān)系,常使用的圖形工具一般是條形圖、折線圖或雷達(dá)圖等第二種情況,X定量,Y定量,如果X為定量數(shù)據(jù),特別是代表年代或時(shí)間時(shí),通常使用線圖進(jìn)行呈現(xiàn),用于直觀地表現(xiàn)隨著X的變化,Y的變化規(guī)律如何。如果X為定量數(shù)據(jù),且是連續(xù)的定量數(shù)據(jù),比如身高、體重這一類數(shù)據(jù),通常用于選擇用散點(diǎn)圖,通過(guò)散點(diǎn)的疏密程度和變化趨勢(shì)來(lái)對(duì)兩個(gè)變量間的數(shù)量關(guān)系進(jìn)行呈現(xiàn),比如身高和體重間的關(guān)系情況展現(xiàn)。通常在相關(guān)分析前也使用散點(diǎn)圖了解關(guān)系。第三種情況,X定量,Y定類,常規(guī)做法是將自/應(yīng)變量交換后使用條形圖進(jìn)行呈現(xiàn)。第四種情況,X定類,Y定類,可使用的圖形工具比較單一,以柱形圖為主,可選擇堆積柱形圖或柱形圖等。

    4. 常規(guī)x線攝影特點(diǎn)包括

    你想說(shuō)的是x射線檢查吧。x射線攝影需要用特制的感光膠片,由于X射線穿過(guò)人體時(shí),人體內(nèi)密度高的部位吸收X射線多,在膠片上乳劑感光少,沖洗后呈白色。反之,密度低部位呈灰或黑色,從而形成人體影像。膠片可以長(zhǎng)期保存 。射線劑量少,但價(jià)格比透視貴。

    體層攝影為臨床上常用的一種特殊檢查方法,多用于證實(shí)肺內(nèi)有無(wú)空洞形成、骨骼是否有破壞、腔內(nèi)是否有腐骨、氣管是否有狹窄等等。

    5. x線常規(guī)檢查技術(shù)包括哪些

    我的研究方向是工業(yè)X射線檢測(cè),就結(jié)合工業(yè)X射線產(chǎn)生和成像原理進(jìn)行簡(jiǎn)單的介紹。

    1、X射線介紹

    X射線也稱為倫琴射線,是由德國(guó)著名物理學(xué)家威廉?康拉德?倫琴(Wilhelm R?ntgen)于1895年11月在進(jìn)行陰極射線的研究時(shí)發(fā)現(xiàn)的。

    X射線本質(zhì)上是與微波、紅外線、可見(jiàn)光和紫外線等一樣的電磁波,電磁波是由光子組成的,由公式可知光子的能量與其波長(zhǎng)成反比:

    式中,h是普朗克常量,c是光在真空中的速度,λ是光子的波長(zhǎng),ν是光子的頻率。X射線對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)范圍分布在幾皮米到幾納米,具有較強(qiáng)的穿透性,因此工業(yè)上常用X射線檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。下圖為X射線在電磁波譜中的分布范圍:

    X射線除了具有所有電磁波的共性之外,還具有一些特有的性質(zhì):

    物理效應(yīng):(1)穿透作用;(2)電離作用;(3)熒光作用;(4)熱作用;(5)干涉、衍射、反射、折射作用。

    化學(xué)效應(yīng):(1)感光作用;(2)著色作用

    生物效應(yīng)。

    2、X射線產(chǎn)生原理

    X射線的產(chǎn)生有三個(gè)不可缺少的條件:

    第一,能夠產(chǎn)生自由電子的電子發(fā)射器;

    第二,能夠使自由電子加速運(yùn)動(dòng)的電場(chǎng);

    第三,能夠使高速移動(dòng)的電子瞬間減速的靶物質(zhì)。

    根據(jù)上述三個(gè)條件,人們發(fā)明了能夠產(chǎn)生X射線的X射線管,射線管的結(jié)構(gòu)如下圖所示:

    X射線管主要由產(chǎn)生自由電子的電子槍和陽(yáng)極靶組成。電子槍主要由陰極燈絲組成,陰極燈絲在通電之后可以產(chǎn)生自由電子,自由電子通過(guò)電子槍中的聚焦極聚焦并經(jīng)過(guò)電子槍的陽(yáng)極進(jìn)行加速形成聚集的電子束;陽(yáng)極靶由熔點(diǎn)高、熱傳導(dǎo)性好的金屬物質(zhì)組成,起到瞬間減速高速移動(dòng)的電子的作用。在X射線管工作時(shí),電子槍和陽(yáng)極靶之間加以高電壓形成強(qiáng)電場(chǎng),電子槍產(chǎn)生的電子束在強(qiáng)電場(chǎng)的作用下向陽(yáng)極靶加速運(yùn)動(dòng)。高速運(yùn)動(dòng)的電子在到達(dá)陽(yáng)極靶時(shí),與陽(yáng)極靶材料原子發(fā)生作用并產(chǎn)生電磁輻射。

    加速電子與陽(yáng)極重金屬作用有三種形式:

    第一種是電子與外層軌道電子相互作用導(dǎo)致外層軌道電子獲得能量升到較高的能量軌道后又迅速回到原來(lái)的位置,這一過(guò)程會(huì)將加速電子的動(dòng)能大部分轉(zhuǎn)變成內(nèi)能并產(chǎn)生少量紅外線。

    第二種是電子與內(nèi)層軌道電子發(fā)生相互作用,當(dāng)這種相互作用導(dǎo)致內(nèi)層軌道電子離開(kāi)了它的軌道,會(huì)形成內(nèi)層的電子空穴。這種空穴被外層軌道電子躍遷填補(bǔ)時(shí)將會(huì)產(chǎn)生X射線,這種形式產(chǎn)生的X射線的能量等于躍遷所發(fā)生的兩個(gè)電子軌道之間的能量差,所以這種X射線包含了重金屬原子內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息,是一種特征X射線。

    第三種是加速電子和原子核的相互作用,當(dāng)加速電子經(jīng)過(guò)重金屬的原子核旁邊時(shí)這會(huì)減速并改變其運(yùn)動(dòng)方向,因?yàn)殡娮訙p速減少的動(dòng)能將轉(zhuǎn)化為X射線,這種形式產(chǎn)生的射線被稱為軔致輻射(Bremsstrahlung)。由于電子的速度可以從0到真空管電壓所對(duì)應(yīng)的電子速度之間連續(xù)變化,因此軔致輻射產(chǎn)生的能譜與特征X射線不同,具有從零到入射能量的連續(xù)能譜。

    一般來(lái)說(shuō),工業(yè)X射線源產(chǎn)生的X射線能譜有可以認(rèn)為由兩部分構(gòu)成,一是加速電子與內(nèi)層軌道電子的相互作用產(chǎn)生的離散的特征X射線能譜,另一部分是軔致輻射產(chǎn)生的連續(xù)能譜。一個(gè)典型的工業(yè)X射線能譜如圖所示:

    3、X射線與物質(zhì)的相互作用

    X射線在穿過(guò)物體時(shí)與物體會(huì)發(fā)生多種過(guò)程復(fù)雜的相互作用,這些相互作用會(huì)導(dǎo)致射線強(qiáng)度的衰減。也正是由于射線發(fā)生了衰減,衰減了的X射線會(huì)攜帶物體內(nèi)部的有關(guān)信息。X射線與物體發(fā)生相互作用時(shí),一部分X射線直接穿過(guò)物體,這部分射線稱為透射X射線;在剩余的X射線中,一部分X射線與物體的原子核發(fā)生直接碰撞,這部分X射線的能量被轉(zhuǎn)化成熱能使物體的溫度升高;另一部分X射線與組成物體物質(zhì)的原子中的軌道電子發(fā)生碰撞并將能量傳給軌道電子,軌道電子發(fā)生逃逸而轉(zhuǎn)化成光電子,產(chǎn)生俄歇電子或熒光X射線;最后一部分X射線與軌道電子發(fā)生非彈性碰撞而導(dǎo)致X射線方向發(fā)生偏離,從而發(fā)生散射作用。

    光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)及電子對(duì)效應(yīng)是X射線與物質(zhì)發(fā)生的主要相互作用:

    1)光電效應(yīng)

    當(dāng)射線進(jìn)入被測(cè)物體時(shí),光子將與原子中的軌道電子發(fā)生碰撞,將其能量全部傳遞給軌道電子,軌道電子在獲得能量之后,會(huì)擺脫原子核對(duì)自己的束縛,變成自由的光電子,而入射光子在與軌道電子相互作用后完全消失,這種現(xiàn)象就是光電效應(yīng)。光電效應(yīng)只有在入射光子能量大于原子核與軌道電子的結(jié)合能時(shí)才會(huì)發(fā)生,否則不會(huì)發(fā)生。由于軌道電子變?yōu)樽杂呻娮?,使得電子層中產(chǎn)生空位,將導(dǎo)致原子不穩(wěn)定,所以外層電子會(huì)躍遷到空位,使原子恢復(fù)穩(wěn)定狀態(tài)。躍遷時(shí)會(huì)發(fā)射熒光輻射,這是光電效應(yīng)的一個(gè)重要特征。下圖為光電效應(yīng)示意圖:

    2)康普頓效應(yīng)

    康普頓效應(yīng)也稱為康普頓散射,指的是入射光子與原子外層電子發(fā)生撞擊,入射光子的部分能量傳遞給了外層電子,外層電子獲得能量后從原來(lái)的軌道飛出,同時(shí),入射光子由于能量的減少,成為散射光子,偏離入射方向,經(jīng)過(guò)散射的射線和入射的射線波長(zhǎng)不相等。如下圖所示,hγ和hγ’分別表示入射光子和散射光子的能量,θ表示入射光子與散射光子之間的夾角,稱為散射角,φ表示入射光子與反沖光子之間的夾角,稱為反沖角。

    3)電子對(duì)效應(yīng)

    當(dāng)高能量的光子穿過(guò)物體時(shí),將會(huì)與原子核發(fā)生相互作用,光子的能量會(huì)全部釋放,轉(zhuǎn)換為正、負(fù)電子對(duì),這種相互作用的過(guò)程稱為電子對(duì)效應(yīng)。產(chǎn)生的電子對(duì)會(huì)在不同方向飛出,方向由入射光子的能量決定。電子對(duì)效應(yīng)的發(fā)生概率與物質(zhì)原子序數(shù)和光子能量有關(guān),在高原子序數(shù)、高光子能量的情況下,是一種重要的相互作用。下圖簡(jiǎn)明地表示了三種基本作用在不同條件下的優(yōu)勢(shì)區(qū)域和重要性。

    在常用的X射線能量范圍內(nèi),光電效應(yīng)、康普頓效應(yīng)和電子對(duì)效應(yīng)這三種物理效應(yīng)基本都會(huì)發(fā)生。對(duì)于不同的被檢物質(zhì)和X射線能量,上述三種效應(yīng)的發(fā)生概率不同。

    4、X射線成像原理

    小朋友你是否有很多問(wèn)號(hào)?我們產(chǎn)生了X射線后要干什么呢?

    當(dāng)然是根據(jù)X射線的特征,以及其強(qiáng)大的穿透能力進(jìn)行成像啦!

    X射線在穿過(guò)物體時(shí),與物體之間產(chǎn)生吸收和散射作用,這導(dǎo)致X射線強(qiáng)度衰減,這是X射線成像的重要基礎(chǔ)。實(shí)驗(yàn)表明,X射線穿過(guò)物質(zhì)的厚度越厚,其強(qiáng)度衰減率越高。某一波長(zhǎng)的X射線穿過(guò)物體時(shí)的衰減規(guī)律滿足比爾定律:

    I為射線穿過(guò)物體經(jīng)過(guò)衰減后的強(qiáng)度,I0為射線的入射強(qiáng)度,μ為該物體在該波長(zhǎng)X射線照射下的線性衰減系數(shù),t為物體的厚度。一般來(lái)說(shuō),X射線的衰減是物質(zhì)對(duì)射線的吸收與散射共同作用的結(jié)果,因此上式中衰減系數(shù)μ被認(rèn)為是吸收系數(shù)與散射系數(shù)的和。在X射線的實(shí)際衰減過(guò)程中,射線因吸收而導(dǎo)致的衰減占主要部分,遠(yuǎn)大于散射所導(dǎo)致的衰減,因此常將因射線散射而導(dǎo)致的衰減忽略。

    當(dāng)一定強(qiáng)度的X射線透射物質(zhì)時(shí),射線的波長(zhǎng)保持不變,當(dāng)X射線穿過(guò)高密度或厚度較大的物體時(shí),X射線強(qiáng)度衰減較大;穿透低密度或較薄的物體時(shí),相同強(qiáng)度的X射線的衰減較小。因此,在一次曝光中,一定強(qiáng)度的X射線穿過(guò)不同物質(zhì),或者相同物質(zhì)不同厚度時(shí),會(huì)得到亮度明暗差別較大的圖像。

    當(dāng)射線束穿過(guò)被檢測(cè)物體時(shí),如果在物體的某個(gè)區(qū)域存在缺陷,或者在射線透照方向上存在結(jié)構(gòu)差異,就會(huì)造成物體對(duì)射線的衰減產(chǎn)生差異,通過(guò)探測(cè)器采集到的圖像就可以分析出被測(cè)物內(nèi)部的缺陷和結(jié)構(gòu)差異。

    上圖為射線檢測(cè)的基本原理圖,入射X射線的強(qiáng)度為I0,穿過(guò)厚度為T的被測(cè)物體,被測(cè)物內(nèi)部有厚度為ΔT的缺陷,被測(cè)物體的線性衰減系數(shù)為μ,射線穿過(guò)沒(méi)有缺陷和有缺陷區(qū)域的一次射線強(qiáng)度分別為ID和ID',沒(méi)有缺陷和有缺陷區(qū)域的散射射線強(qiáng)度為IS和IS',沒(méi)有缺陷和有缺陷區(qū)域的總透射強(qiáng)度為I和I’。

    總透射強(qiáng)度可由一次射線強(qiáng)度和散射射線強(qiáng)度組合表示:

    實(shí)際中ΔT遠(yuǎn)小于T,因此可認(rèn)為IS和IS'相等,所以可得:

    對(duì)于一次射線,根據(jù)比爾定律可以得出:

    由于式μΔT表示的值很小,根據(jù)泰勒公式近似:

    缺陷的衰減系數(shù)記為μ’,經(jīng)過(guò)進(jìn)一步推導(dǎo)(過(guò)程略去)可得:

    ΔI/I表示的是物體的對(duì)比度,表示了射線成像的基本原理,即得出了缺陷和本體之間的對(duì)比度關(guān)系。由上式可以看出,射線檢測(cè)缺陷的能力,與射線的能量、在射線透照方向上缺陷的尺寸、射線散射等相關(guān)。檢測(cè)原理是根據(jù)物體不同部位對(duì)射線衰減的差異,通過(guò)探測(cè)器采集到這種差異信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像,然后從圖像中提取出物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、質(zhì)量狀態(tài)等重要信息,然后對(duì)其分析處理。

    5、X射線圖像采集系統(tǒng)

    X射線數(shù)字射線成像(Digital Radiograph, DR)和工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描(Industrial Computed Tomography, ICT)是工業(yè)無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域中的兩個(gè)重要技術(shù)分支。DR檢測(cè)技術(shù),是20世紀(jì)90年代末出現(xiàn)的一種實(shí)時(shí)的X射線數(shù)字成像技術(shù)。相對(duì)于現(xiàn)今仍然普遍應(yīng)用的射線膠片照相,DR檢測(cè)最大的優(yōu)點(diǎn)就是實(shí)時(shí)性強(qiáng),可以在線實(shí)時(shí)地對(duì)生產(chǎn)工件結(jié)構(gòu)介質(zhì)不連續(xù)性、結(jié)構(gòu)形態(tài)以及介質(zhì)物理密度等質(zhì)量缺陷進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),因此在快速無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域里有廣闊的發(fā)展前景。

    ICT技術(shù)是一種融合了射線光電子學(xué)、信息科學(xué)、微電子學(xué)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)科學(xué)等領(lǐng)域知識(shí)的高新技術(shù)。它以X射線掃描、探測(cè)器采集的數(shù)字投影序列為基礎(chǔ),重建掃描區(qū)域內(nèi)被檢試件橫截面的射線衰減系數(shù)分布映射圖像。

    DR

    DR系統(tǒng)一般由射線源、待測(cè)物、探測(cè)器、圖像工作站等幾部分構(gòu)成。目前在工程實(shí)際中應(yīng)用的探測(cè)器主要分為兩種:圖像增強(qiáng)器和非晶硅探測(cè)器。圖像增強(qiáng)器首先通過(guò)射線轉(zhuǎn)化屏將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光,然后通過(guò)CCD(Charge Coupled Device)相機(jī)將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)化為視頻信號(hào),可在監(jiān)視器上實(shí)時(shí)顯示,也可通過(guò)A/D采集卡轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)輸入到計(jì)算機(jī)顯示和處理。非晶硅探測(cè)器采用大規(guī)模集成技術(shù),集成了一個(gè)大面積非晶硅傳感器陣列和碘化銫閃爍體,可以直接將X光子轉(zhuǎn)化為電子,并最終通過(guò)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(ADC)轉(zhuǎn)變成為數(shù)字信號(hào)。

    X射線數(shù)字成像技術(shù)廣泛應(yīng)用于航空、航天、兵器、核能、汽車等領(lǐng)域產(chǎn)品和系統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)、無(wú)損評(píng)估以及逆求,檢測(cè)對(duì)象包括導(dǎo)彈、火箭發(fā)動(dòng)機(jī)、核廢料、電路板、發(fā)動(dòng)機(jī)葉片、汽車發(fā)動(dòng)機(jī)氣缸、輪胎輪轂等,在工程質(zhì)量監(jiān)督和產(chǎn)品質(zhì)量保證方面發(fā)揮著極其重要的作用,正逐漸成為發(fā)展現(xiàn)代化國(guó)防科技和眾多高科技產(chǎn)業(yè)的一種基礎(chǔ)技術(shù)。

    電路板檢測(cè):

    焊縫檢測(cè):

    CT檢測(cè)

    X射線CT是國(guó)內(nèi)研究最為廣泛的CT成像方法之一,CT圖像重建方法是CT基礎(chǔ)研究的核心。CT圖像重建的任務(wù)是由CT數(shù)據(jù)重建被測(cè)物體的CT圖像。

    錐束CT是指基于面陣列探測(cè)器的CT成像方法,其中錐束指X射線源焦點(diǎn)與面陣列探測(cè)器所形成惟形射線束。與傳統(tǒng)基于維線陣列探測(cè)器的扇束CT相比,錐束CT每次可以獲得一幅二維圖像,具有射線利用率高和各向分辨率相同等優(yōu)點(diǎn)。

    當(dāng)我們獲取了一定數(shù)量的投影數(shù)據(jù)后,便可以根據(jù)不同掃描方式下的不同CT重建算法,重建出待測(cè)物體的斷層圖像。

    典型CT斷層圖像:

     
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