1. x線攝影完整流程

1、攝影體位 被檢者仰臥于攝影臺上，肘關(guān)節(jié)彎曲內(nèi)轉(zhuǎn)成側(cè)位，屈肘呈直角，掌心置于腹上，上緣包括肩關(guān)節(jié)，下緣包括肘關(guān)節(jié)。此體位適用于立位。

2、中心線 對準肱骨中點垂直射入。

2. x線攝影的基本原則

x射線切線位是指X射線中心線經(jīng)過被檢部位邊緣，并垂直射入探測器的攝影體位。

x射線正位包括前后正位及后前正位，當需要拍攝胸部正位片時，我們用的是胸部后前正位（X線球管從受檢者后方向前投照，探測器或膠片盒在受檢者前方）；而拍攝腹部正位片時，則需要用腹部前后正位（X線球管從受檢者前方向后投照，探測器或膠片盒在受檢者后方 ）。其它部位的正位片拍攝方法和上述類似，僅有些微不同，但體位擺放時的基本原則不會改變。

3. x線攝影包括哪些

你想說的是x射線檢查吧。x射線攝影需要用特制的感光膠片，由于X射線穿過人體時，人體內(nèi)密度高的部位吸收X射線多，在膠片上乳劑感光少，沖洗后呈白色。反之，密度低部位呈灰或黑色，從而形成人體影像。膠片可以長期保存 。射線劑量少，但價格比透視貴。

體層攝影為臨床上常用的一種特殊檢查方法，多用于證實肺內(nèi)有無空洞形成、骨骼是否有破壞、腔內(nèi)是否有腐骨、氣管是否有狹窄等等。

4. x線攝影的基礎(chǔ)

X線機原理：用高壓變壓器將380伏動力電轉(zhuǎn)換為40千伏至100千伏，讓這個電壓加在一個帶有燈絲的真空管的兩極，如果真空管一端燈絲亮起，那么高壓將會驅(qū)動燈絲上的電子云向另一端高速運動，高速運動的電子轟擊靶面后，99%轉(zhuǎn)變成了熱量，另外1%則轉(zhuǎn)化為X射線，X線機是基本原理就是這個。

X線能穿透人體組織器官，人體組織器官的密度、厚薄都不相同，故其對X線的吸收量也不盡相同，這樣導致穿過人體不同組織器官后的X線能量衰減不一，感光膠片可將這種經(jīng)人體組織器官吸收后的X線抽象記錄下來，形成圖像。就是普通X線攝片一般原理。X線實際上是一種波長極短、能量很大的電磁波。X射線穿透物質(zhì)的能力與射線光子的能量有關(guān)，X線的 波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X顯得穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，密度大的物質(zhì)對x線的吸收多，透過少；密度小者吸收，透過多。

5. x線攝影的概念及優(yōu)缺點

X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的粒子流，是波長介于紫外線和γ射線 之間的電磁波。其波長很短約介于0.01~100埃之間。由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發(fā)現(xiàn)，故又稱倫琴射線。倫琴射線具有很高的穿透本領(lǐng)，能透過許多對可見光不透明的物質(zhì)，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發(fā)生可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應。

波長小于0.1埃的稱超硬X射線，在0.1～1埃范圍內(nèi)的稱硬X射線，1～100埃范圍內(nèi)的稱軟X射線。X射線最初用于醫(yī)學成像診斷和 X射線結(jié)晶學。

6. x線攝影方法

該x線透視和x線攝影的原理如下：

X射線透視原理：X射線實際上是一種波長極短、能量很大的電磁波。X射線具有穿透性,但人體組織間有密度和厚度的差異，當X射線透過人體不同組織時，被吸收的程度不同，經(jīng)過顯像處理后即可得到不同的影像。

X射線因其波長短，能量大，照在物質(zhì)上時，僅一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過，表現(xiàn)出很強的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開來 。

7. x線攝影技巧

x線攝影 全稱叫數(shù)字x線攝影 。

8. x線攝影是檢查什么

利用X線幾何投影學原理和光學放大原理，獲取被照體細節(jié)放大影像的一種X線特殊攝影檢查方法。X線放大攝影的實質(zhì)，是將被照體的高頻信息通過光學放大且變?yōu)槿说囊曈X能夠分辨的低頻信息。X線放大攝影能夠顯示組織器官的細微結(jié)構(gòu)，如骨小梁、微細血管、肺部末梢紋理等。X線放大攝影主要是應用直接放大方法。

9. x線攝影的主要條件有哪些

我的研究方向是工業(yè)X射線檢測，就結(jié)合工業(yè)X射線產(chǎn)生和成像原理進行簡單的介紹。

1、X射線介紹

X射線也稱為倫琴射線，是由德國著名物理學家威廉?康拉德?倫琴（Wilhelm R?ntgen）于1895年11月在進行陰極射線的研究時發(fā)現(xiàn)的。

X射線本質(zhì)上是與微波、紅外線、可見光和紫外線等一樣的電磁波，電磁波是由光子組成的，由公式可知光子的能量與其波長成反比：

式中，h是普朗克常量，c是光在真空中的速度，λ是光子的波長，ν是光子的頻率。X射線對應的波長范圍分布在幾皮米到幾納米，具有較強的穿透性，因此工業(yè)上常用X射線檢測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。下圖為X射線在電磁波譜中的分布范圍：

X射線除了具有所有電磁波的共性之外，還具有一些特有的性質(zhì)：

物理效應：（1）穿透作用；（2）電離作用；（3）熒光作用；（4）熱作用；（5）干涉、衍射、反射、折射作用。

化學效應：（1）感光作用；（2）著色作用

生物效應。

2、X射線產(chǎn)生原理

X射線的產(chǎn)生有三個不可缺少的條件：

第一，能夠產(chǎn)生自由電子的電子發(fā)射器；

第二，能夠使自由電子加速運動的電場；

第三，能夠使高速移動的電子瞬間減速的靶物質(zhì)。

根據(jù)上述三個條件，人們發(fā)明了能夠產(chǎn)生X射線的X射線管，射線管的結(jié)構(gòu)如下圖所示：

X射線管主要由產(chǎn)生自由電子的電子槍和陽極靶組成。電子槍主要由陰極燈絲組成，陰極燈絲在通電之后可以產(chǎn)生自由電子，自由電子通過電子槍中的聚焦極聚焦并經(jīng)過電子槍的陽極進行加速形成聚集的電子束；陽極靶由熔點高、熱傳導性好的金屬物質(zhì)組成，起到瞬間減速高速移動的電子的作用。在X射線管工作時，電子槍和陽極靶之間加以高電壓形成強電場，電子槍產(chǎn)生的電子束在強電場的作用下向陽極靶加速運動。高速運動的電子在到達陽極靶時，與陽極靶材料原子發(fā)生作用并產(chǎn)生電磁輻射。

加速電子與陽極重金屬作用有三種形式：

第一種是電子與外層軌道電子相互作用導致外層軌道電子獲得能量升到較高的能量軌道后又迅速回到原來的位置，這一過程會將加速電子的動能大部分轉(zhuǎn)變成內(nèi)能并產(chǎn)生少量紅外線。

第二種是電子與內(nèi)層軌道電子發(fā)生相互作用，當這種相互作用導致內(nèi)層軌道電子離開了它的軌道，會形成內(nèi)層的電子空穴。這種空穴被外層軌道電子躍遷填補時將會產(chǎn)生X射線，這種形式產(chǎn)生的X射線的能量等于躍遷所發(fā)生的兩個電子軌道之間的能量差，所以這種X射線包含了重金屬原子內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息，是一種特征X射線。

第三種是加速電子和原子核的相互作用，當加速電子經(jīng)過重金屬的原子核旁邊時這會減速并改變其運動方向，因為電子減速減少的動能將轉(zhuǎn)化為X射線，這種形式產(chǎn)生的射線被稱為軔致輻射(Bremsstrahlung)。由于電子的速度可以從0到真空管電壓所對應的電子速度之間連續(xù)變化，因此軔致輻射產(chǎn)生的能譜與特征X射線不同，具有從零到入射能量的連續(xù)能譜。

一般來說，工業(yè)X射線源產(chǎn)生的X射線能譜有可以認為由兩部分構(gòu)成，一是加速電子與內(nèi)層軌道電子的相互作用產(chǎn)生的離散的特征X射線能譜，另一部分是軔致輻射產(chǎn)生的連續(xù)能譜。一個典型的工業(yè)X射線能譜如圖所示：

3、X射線與物質(zhì)的相互作用

X射線在穿過物體時與物體會發(fā)生多種過程復雜的相互作用，這些相互作用會導致射線強度的衰減。也正是由于射線發(fā)生了衰減，衰減了的X射線會攜帶物體內(nèi)部的有關(guān)信息。X射線與物體發(fā)生相互作用時，一部分X射線直接穿過物體，這部分射線稱為透射X射線；在剩余的X射線中，一部分X射線與物體的原子核發(fā)生直接碰撞，這部分X射線的能量被轉(zhuǎn)化成熱能使物體的溫度升高；另一部分X射線與組成物體物質(zhì)的原子中的軌道電子發(fā)生碰撞并將能量傳給軌道電子，軌道電子發(fā)生逃逸而轉(zhuǎn)化成光電子，產(chǎn)生俄歇電子或熒光X射線；最后一部分X射線與軌道電子發(fā)生非彈性碰撞而導致X射線方向發(fā)生偏離，從而發(fā)生散射作用。

光電效應、康普頓效應及電子對效應是X射線與物質(zhì)發(fā)生的主要相互作用：

1）光電效應

當射線進入被測物體時，光子將與原子中的軌道電子發(fā)生碰撞，將其能量全部傳遞給軌道電子，軌道電子在獲得能量之后，會擺脫原子核對自己的束縛，變成自由的光電子，而入射光子在與軌道電子相互作用后完全消失，這種現(xiàn)象就是光電效應。光電效應只有在入射光子能量大于原子核與軌道電子的結(jié)合能時才會發(fā)生，否則不會發(fā)生。由于軌道電子變?yōu)樽杂呻娮?，使得電子層中產(chǎn)生空位，將導致原子不穩(wěn)定，所以外層電子會躍遷到空位，使原子恢復穩(wěn)定狀態(tài)。躍遷時會發(fā)射熒光輻射，這是光電效應的一個重要特征。下圖為光電效應示意圖：

2）康普頓效應

康普頓效應也稱為康普頓散射，指的是入射光子與原子外層電子發(fā)生撞擊，入射光子的部分能量傳遞給了外層電子，外層電子獲得能量后從原來的軌道飛出，同時，入射光子由于能量的減少，成為散射光子，偏離入射方向，經(jīng)過散射的射線和入射的射線波長不相等。如下圖所示，hγ和hγ’分別表示入射光子和散射光子的能量，θ表示入射光子與散射光子之間的夾角，稱為散射角，φ表示入射光子與反沖光子之間的夾角，稱為反沖角。

3）電子對效應

當高能量的光子穿過物體時，將會與原子核發(fā)生相互作用，光子的能量會全部釋放，轉(zhuǎn)換為正、負電子對，這種相互作用的過程稱為電子對效應。產(chǎn)生的電子對會在不同方向飛出，方向由入射光子的能量決定。電子對效應的發(fā)生概率與物質(zhì)原子序數(shù)和光子能量有關(guān)，在高原子序數(shù)、高光子能量的情況下，是一種重要的相互作用。下圖簡明地表示了三種基本作用在不同條件下的優(yōu)勢區(qū)域和重要性。

在常用的X射線能量范圍內(nèi)，光電效應、康普頓效應和電子對效應這三種物理效應基本都會發(fā)生。對于不同的被檢物質(zhì)和X射線能量，上述三種效應的發(fā)生概率不同。

4、X射線成像原理

小朋友你是否有很多問號？我們產(chǎn)生了X射線后要干什么呢？

當然是根據(jù)X射線的特征，以及其強大的穿透能力進行成像啦！

X射線在穿過物體時，與物體之間產(chǎn)生吸收和散射作用，這導致X射線強度衰減，這是X射線成像的重要基礎(chǔ)。實驗表明，X射線穿過物質(zhì)的厚度越厚，其強度衰減率越高。某一波長的X射線穿過物體時的衰減規(guī)律滿足比爾定律：

I為射線穿過物體經(jīng)過衰減后的強度，I0為射線的入射強度，μ為該物體在該波長X射線照射下的線性衰減系數(shù)，t為物體的厚度。一般來說，X射線的衰減是物質(zhì)對射線的吸收與散射共同作用的結(jié)果，因此上式中衰減系數(shù)μ被認為是吸收系數(shù)與散射系數(shù)的和。在X射線的實際衰減過程中，射線因吸收而導致的衰減占主要部分，遠大于散射所導致的衰減，因此常將因射線散射而導致的衰減忽略。

當一定強度的X射線透射物質(zhì)時，射線的波長保持不變，當X射線穿過高密度或厚度較大的物體時，X射線強度衰減較大；穿透低密度或較薄的物體時，相同強度的X射線的衰減較小。因此，在一次曝光中，一定強度的X射線穿過不同物質(zhì)，或者相同物質(zhì)不同厚度時，會得到亮度明暗差別較大的圖像。

當射線束穿過被檢測物體時，如果在物體的某個區(qū)域存在缺陷，或者在射線透照方向上存在結(jié)構(gòu)差異，就會造成物體對射線的衰減產(chǎn)生差異，通過探測器采集到的圖像就可以分析出被測物內(nèi)部的缺陷和結(jié)構(gòu)差異。

上圖為射線檢測的基本原理圖，入射X射線的強度為I0，穿過厚度為T的被測物體，被測物內(nèi)部有厚度為ΔT的缺陷，被測物體的線性衰減系數(shù)為μ，射線穿過沒有缺陷和有缺陷區(qū)域的一次射線強度分別為ID和ID'，沒有缺陷和有缺陷區(qū)域的散射射線強度為IS和IS'，沒有缺陷和有缺陷區(qū)域的總透射強度為I和I’。

總透射強度可由一次射線強度和散射射線強度組合表示：

實際中ΔT遠小于T，因此可認為IS和IS'相等，所以可得：

對于一次射線，根據(jù)比爾定律可以得出：

由于式μΔT表示的值很小，根據(jù)泰勒公式近似：

缺陷的衰減系數(shù)記為μ’，經(jīng)過進一步推導（過程略去）可得：

ΔI/I表示的是物體的對比度，表示了射線成像的基本原理，即得出了缺陷和本體之間的對比度關(guān)系。由上式可以看出，射線檢測缺陷的能力，與射線的能量、在射線透照方向上缺陷的尺寸、射線散射等相關(guān)。檢測原理是根據(jù)物體不同部位對射線衰減的差異，通過探測器采集到這種差異信號，并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像，然后從圖像中提取出物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、質(zhì)量狀態(tài)等重要信息，然后對其分析處理。

5、X射線圖像采集系統(tǒng)

X射線數(shù)字射線成像(Digital Radiograph, DR)和工業(yè)計算機斷層掃描（Industrial Computed Tomography, ICT）是工業(yè)無損檢測領(lǐng)域中的兩個重要技術(shù)分支。DR檢測技術(shù)，是20世紀90年代末出現(xiàn)的一種實時的X射線數(shù)字成像技術(shù)。相對于現(xiàn)今仍然普遍應用的射線膠片照相，DR檢測最大的優(yōu)點就是實時性強，可以在線實時地對生產(chǎn)工件結(jié)構(gòu)介質(zhì)不連續(xù)性、結(jié)構(gòu)形態(tài)以及介質(zhì)物理密度等質(zhì)量缺陷進行無損檢測，因此在快速無損檢測領(lǐng)域里有廣闊的發(fā)展前景。

ICT技術(shù)是一種融合了射線光電子學、信息科學、微電子學、精密機械和計算機科學等領(lǐng)域知識的高新技術(shù)。它以X射線掃描、探測器采集的數(shù)字投影序列為基礎(chǔ)，重建掃描區(qū)域內(nèi)被檢試件橫截面的射線衰減系數(shù)分布映射圖像。

DR

DR系統(tǒng)一般由射線源、待測物、探測器、圖像工作站等幾部分構(gòu)成。目前在工程實際中應用的探測器主要分為兩種：圖像增強器和非晶硅探測器。圖像增強器首先通過射線轉(zhuǎn)化屏將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見光，然后通過CCD（Charge Coupled Device）相機將可見光轉(zhuǎn)化為視頻信號，可在監(jiān)視器上實時顯示，也可通過A/D采集卡轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號輸入到計算機顯示和處理。非晶硅探測器采用大規(guī)模集成技術(shù)，集成了一個大面積非晶硅傳感器陣列和碘化銫閃爍體，可以直接將X光子轉(zhuǎn)化為電子，并最終通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器（ADC）轉(zhuǎn)變成為數(shù)字信號。

X射線數(shù)字成像技術(shù)廣泛應用于航空、航天、兵器、核能、汽車等領(lǐng)域產(chǎn)品和系統(tǒng)的無損檢測、無損評估以及逆求，檢測對象包括導彈、火箭發(fā)動機、核廢料、電路板、發(fā)動機葉片、汽車發(fā)動機氣缸、輪胎輪轂等，在工程質(zhì)量監(jiān)督和產(chǎn)品質(zhì)量保證方面發(fā)揮著極其重要的作用，正逐漸成為發(fā)展現(xiàn)代化國防科技和眾多高科技產(chǎn)業(yè)的一種基礎(chǔ)技術(shù)。

電路板檢測：

焊縫檢測：

CT檢測

X射線CT是國內(nèi)研究最為廣泛的CT成像方法之一，CT圖像重建方法是CT基礎(chǔ)研究的核心。CT圖像重建的任務(wù)是由CT數(shù)據(jù)重建被測物體的CT圖像。

錐束CT是指基于面陣列探測器的CT成像方法，其中錐束指X射線源焦點與面陣列探測器所形成惟形射線束。與傳統(tǒng)基于維線陣列探測器的扇束CT相比，錐束CT每次可以獲得一幅二維圖像，具有射線利用率高和各向分辨率相同等優(yōu)點。

當我們獲取了一定數(shù)量的投影數(shù)據(jù)后，便可以根據(jù)不同掃描方式下的不同CT重建算法，重建出待測物體的斷層圖像。

典型CT斷層圖像：